真空蒸馏是利用被蒸馏物中各组分具有不同的挥发性能,对蒸馏物进行低压下加热,通过控制蒸馏温度使一些组分挥发,而与另一些不挥发物达到分离进行提纯的目的。在镁还原生产海绵钛工艺中,对还原物进行真空蒸馏的目的是除去海绵钛中大部分MgCl2和镁,工艺作业制度是一个温度高(1000℃)、中真空和周期长(120~200h)的过程。而真空自耗电弧熔炼这个真空蒸馏过程,与上述过程不同的是,工艺作业制度是温度更高(1800℃)、中真空和周期较短(几小时),它是前者的继续,可以除去海绵钛中残留的杂质,获得纯度更高的金属钛。
真空自耗电弧熔炼按反应器的真空度,可以简化认为蒸发的气体流型属于分子流。与普通蒸馏不同,分子蒸馏仅有被蒸馏物表面的自由蒸发,没有沸腾现象,从理论上说这种自由蒸发是不可逆的。蒸发的气体流型不同,其蒸馏分离系数α也不一样。普通蒸馏分离系数为:分子蒸馏分离系数为:
式中
Pi-i组元蒸气压;
Mi-i组元物质的量;
ri-i组元活度。
钛中各种杂质按其与钛的分子蒸馏分离系数相比,可以分成3种类型:第一种是am>1的杂质,这种杂质可能分离,而且越大越易分离除去,特别是当αm>100时,杂质较易分离除去;第二种是αm=1或接近1的杂质,这种杂质无法除之;第三种是am<1时的杂质,这种杂质在熔炼中无法除去,只能浓缩。
钛和其他一些金属杂质的饱和蒸气压和温度的关系见图1-17和表1-3.一些杂质对钛的分离系数见表1-4.
海绵钛中属第一类的游离杂质是容易分离除去的。如Mg和MgCl2挥发性大,也大,500~600℃时开始挥发,到达2000℃时基本上都能除去。又如吸附的水在更低的温度下便开始挥发除去。
海绵钛中夹杂的低价氯化钛,如TiCl2和TiCl3,在一定温度下发生离解反应:
2TiCl2-Ti+TiCl4
4TiCl3-Ti+3TiCl4
生成物中的气态TiCl4被排出炉外。
海绵钛中第二类间隙固溶体杂质氧、氮和碳,它们不能以单元素解析排除,因为钛吸收这些气体杂质后无法解脱。可以认为,它们在钛中以钛化物TiO、TiN、TiC形态存在。而这些钛化物分解压很低,很难离解。如TiN的分解压在2331℃时只有0.31Pa(见表1-5).这些钛化物只能以TiO、TiN和TiC 形态脱除。但是,它们和钛的分离系数为1或接近1,如TiO/Ti的αp为1,无法通过熔炼脱除分离。
钛中的TiO既不能加碳脱氧,也不能加气体CO用还原的方法除氧。因为高温下加碳或加CO均会被钛吸收或分解,相应地会增加钛中的杂质碳和氧。
间隙性杂质氢是唯一能解析脱除的。氢的解析也经过一连串过程,先是氢原子向金属界面扩散,随后在界面上结合成氢分子,氢分子最后在界面脱附,随气流排除。钛含氢浓度低时,生成物为TiH.TiH除氢时,反应历程为:
TiH-Ti+H
2H-H2
氢化钛的分解压很大(见表1-6),其中的氢很容易被分解脱除。钛锭的最终氢含量可以达到0.002%.
海绵钛中第三类金属杂质,和钛分离系数am>1的有铁、硅等,在熔炼中能挥发除去一些;和钛分离系数am<1的有钒、钼等低挥发性金属,这类杂质在熔炼中只能浓缩,但因含量甚微,不会引起明显变化。
在上述易挥发组分中,H2O、H、TiCl2、TiCl和Ig 最易除去,而MgCl22的比较小且含量多,海绵钛中Cl-含量约为0.05%~0.20%,可以认为它是熔炼中要除去的关键组分,以此来分析除气动力学。
钛真空自耗电弧熔炼时,MgCl2等杂质从液态钛中的挥发,由下述3个步骤组成:
(1)MgCl2从钛液内部通过边界层迁移到熔池表面层;
(2)熔池表面层气相MgCl2脱附和从表面挥发;
(3)气相MgCl2通过气相界面层迁移到气相内部。
不同的杂质元素或化合物的挥发脱除过程,因其挥发性不一样而具有不同的控制步骤。蒸气压较小的杂质Mo、V、TiO、TiN、TiC等,上述第二步骤为其蒸发脱除的控制步骤。蒸气压较大的杂质Mg、MgCl2、H、Mn、Al等,上述第一步骤即边界层传质速度是其蒸发脱除的限制性环节。
在真空条件下,第三步骤的速度很快,不会成为控制步骤,但在氩气氛中熔炼时有可能成为控制步骤。
当MgCl2的表面挥发速度(即第二步骤)成为控制步骤时,有:
式中
dWA/dt-MgCl2的挥发速度;
αa-MgCl2的凝聚系数;
PAp-纯Mg的饱和蒸气压;
rA-MgCl2的活度系数;
XA-MgCl2在碳中含量(摩尔分数);
M-MgCl2的物质的量。
钛中合金元素的挥发速度也同样可以用式(1-2)进行计算。当控制步骤为第一步骤时,出现表面MgCl2贫化现象,使之产生偏差,此时式(1-2)可写成:
式中
Cas一熔池表面处MgCl2的浓度;
kA-气相表面挥发系数。
液相边界层的传质速度由下式表示:
dMA/dt=Kd(CA-CAs) (1-4)
式中
Ca-熔池内部MgCl2的浓度;
Kd-液相边界层传质系数。
达到稳定时表面挥发速度和界面层传质速度相等,联立式(1-3)和式((1-4),消去CAS值得到:
式(1-5)表明,不论挥发过程由气相扩散控制或由液相界面层扩散控制,或者混合控制,挥发速度均和MgCl2浓度成正比,属一级反应。一般情况下,蒸气压大的MgCl2等杂质的蒸发脱除属扩散步骤控制。由于Mgl2对Ti的分离系数am较大,扩散速率也大,钛中的MgCl2比较容易除尽。
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